自动化光学检查 ( AOI )
1
设备型号
TWA-01A
2
功能
生产过程中晶圆/芯片/生产线的全自动缺陷检查。
TWA-01A
生产过程中晶圆/芯片/生产线的全自动缺陷检查。
中国江苏省苏州市苏州工业园区方洲路128号纳米产业基地一期D幢205室
Email:
mike.lou@tec-global.com
Phone:
+86-13812641248
© Copyright 2020 Tec Global - All Rights Reserved
皖公网安备 34019202001118号 皖ICP备2020017134号-1